泰克 Tektronix DSA8300 长期 回收
Tektronix DSA8300系列提供了行业 先的小于100fs的本底抖动，可以实现异常准确的器件检定， 支持光通信标准、时域反射计和S参数。DSA8300数字采样示波器为155Mb/s - 100G的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。
功能
优势
电模块信号测量准确度：
超低系统抖动（典型 <100 fs）
> 70GHz
<100 fs 本底抖动允许对高位速率（40 和 100 (4′25) Gb/s）设备进行检定，典型 <5% 的信号单位间隔由测试仪器所使用。70 GHz 带宽允许对高位速率信号进行完整检定（数据速率 28 Gb/秒的 5 阶谐波和数据速率 >45 Gb/秒的 3 阶谐波）。
所有带宽上系统噪声业内低：
600 μV 大（450 μV 典型） 60 GHz
380 μV 大（280 μV 典型） 30 GHz
大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量，避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。
单台主机内多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动。
多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试，提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。
光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。
为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统，从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太网）和 100 Gb/s 以太网（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波长 850、1310 和 1550nm。
优异的采集吞吐量，采样率高 300 kS/s。
通过优异的系统吞吐量，可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。
能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。
远程采样头大程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化，简化测试系统的反嵌。
独立的已校准通道相差校正。
双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正，消除时滞，增强多通道测量的信号保真度。
型号
模拟带宽
采样率
记录长度
模拟通道
DSA8300
DC - 80 GHz
大 300 kS/s
50 点 - 16,000 点（IConnect 为 1M 点，80SJNB 为 10M 点）
取决于使用的采样模块，多8条通道
