超声波扫描显微镜
品牌:津上智造
型号:UTScan400
产品简介:
扫描显微镜是一种利用传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查元器件、材料、晶圆等样品内部的分层、空洞、裂缝等缺陷。
超声波扫描显微镜是一种实用性极强的无损检测工具。该产品主要利用高频的超声波,对各类半导体器件、材料进行检测,能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷,并以图形的方式直观展示。在扫描过程中,不会对样品造成损伤,不会影响样品性能。因此,被广泛应用于半导体器件及封装检测、材料检测、IGBT功率模组产品检测等场合。
应用领域:
半导体器件及封装检测:
分立器件(IGBT/SiC)、陶瓷基板、塑封IC、光电器件、微波功率器件、MEMS器件、倒装芯片、堆叠Stacked Die、MCM多芯片模块等。
材料检测:
陶瓷、玻璃、金属、塑料、焊接件、水冷散热器等。
IGBT功率模组产品检测:
实现 IGBT 模块内部界面和结构缺陷的无损检测,在进行功率循环后,通过SAM测试,准确找到 IGBT 模块材料、焊料层,打线等工艺中出现的问题,筛选不合格产品,并促进 IGBT 模块的封装质量提升。