产品ID：S-BMS2-CM4-Si-5
品牌名称：美国Dataray
DataRay的BeamMap2代表了一种完全不同的实时光束分析方法。它通过允许沿光束行程的多个位置进行测量，扩展了Beam'R2的测量功能。这种实时狭缝扫描系统在旋转圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对，以同时测量四个不同z位置处的四个光束轮廓。 BeamMap2独特的设计最适用于焦点位置，M2，光束发散和指向的实时测量。
产品特点：
· 190至1150 nm，Si探测器
· 650至1800 nm，InGaAs 探测器
· 1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）探测器
· 光束直径~100 μm至~3 mm（1.5 mm加长InGaAs）
· 25 μm狭缝对与Si；0.1到2 μm采样间隔
· 50 μm狭缝对，带 InGaAs；0.1到2 μm采样间隔
· 实时±1 mr实时发散和指向测量精度
· 端口供电，USB2.0，灵活的3米电缆，没有电源砖
· 0.1 μm采样和分辨率
· 线性和对数X-Y轮廓
· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿
· 实时多Z平面扫描狭缝系统
· 实时XYZ轮廓，焦点位置
· 实时M2、发散、准直、对准
