特性和规格包括：
应用
手动或自动高分辨率 DC
半导体的参数表征
即将到来的检查
制造测试
过程监控和质量控制
数据表生成
元器件匹配
故障分析
工程
半导体器件的高功率测量
高达 3,000 伏特
高达 400 安培
高达 3,000 瓦
波形比较
信封展示
波形平均
3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盘存储
高压集电极模式允许测试高达 3,000 伏的器件的关闭特性。脉冲高电流集电极模式提供大于 400 安培峰值的输出电流脉冲，用于测试导通特性。
它还允许进行高达 3,000 瓦的高功率测试。在研发实验室中，Tektronix 371A Curve Trace 用于表征新设计、提取 SPICE 参数、故障分析和数据表生成。
在制造测试中，它用于验证设备质量和过程监控。
